Yıllardır devre kartı testlerinin ön saflarında yer alan bir mühendis olarak, en kötü şey tekrar tekrar takıp çıkarmak ve bunun sonucunda oluşan zayıf temasla uğraşmaktır. Bir keresinde, prob temasının dengesiz olması nedeniyle kritik bir BGA çip testi başarısız oldu ve bu da tüm ürün partisinin gecikmesine neden oldu – inanılmaz derecede sinir bozucuydu. Ancak şimdi, çift uçlu probların ortaya çıkışı oyunu tamamen değiştirdi. Yüksek saflıkta fosfor bronz malzemeden yapılmışlar ve...